Американские материаловеды из NIST (the National Institute of Standards and Technology) с коллегами из IBM и MIT исследовали, как ведут себя края тонких пленок, чтобы выяснить, какой вклад они вносят в магнитные свойства образца. Эти исследования важны для разработки дизайна будущей наноэлектроники.
Ферромагнитные тонкие пленки металлических материалов, которые имеют толщину от доли нанометра до нескольких микрометров, помещают на подложку, например, из кремния при производстве многих устройств микроэлектроники, работающих на основе магнетизма (например, в жестких дисках компьютеров).
Методы измерения магнитных свойств ферромагнитных тонких пленок известны, но это не касалось краев пленок. Для относительно больших приборов их влиянием можно пренебречь. Но компоненты микроэлектроники продолжают уменьшаться, края занимают все большую часть поверхности и становятся доминирующими, управляя магнитными свойствами образцов. (Если вы уменьшите диск вдвое, то поверхность уменьшится в четыре раза, а длина края всего в два раза.)
Ученые из NIST, IBM and MIT недавно придумали и продемонстрировали спектроскопический метод для изучения магнитных свойств краев у тонких пленок из сплава никеля и железа в параллельных нанопроводах (полосках) на кремниевом диске. Они направляли микроволны разных частот над полосками и измеряли магнитный резонанс. Так как края пленок резонируют иначе, чем центр образца, то исследователи смогли определить, какое магнитное поведение присуще краям.

Новый метод можно использовать, чтобы выяснить, как на магнитные свойства краев тонких пленок влияют их толщина и условия обработки во время создания полосок. Данные, полученные при изучении полосок шириной от 250 до 1,000 нанометров, можно использовать, чтобы объяснить поведение похожих структур в наномире.

http://www.nist.gov/public_affairs/techbeat/tb2007_0927.htm#edge